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治具/半導體耗材

Home 治具/半導體耗材 ODM/OEM 測試類

測試類

Test Socket

產品樣式：
採用探針式設計，確保測試過程中接觸穩定。

功能說明：
用於實現IC與測試板之間的精確連接，滿足多種IC測試需求。

產品特色：
可根據不同IC封裝形式如QFN、BGA、QFP，提供專屬客製化設計，靈活適應各類測試環境。

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產品規格

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